Reggiani, Susanna; Gnani, Elena; Rudan, Massimo; Baccarani, Giogio; Bychikhin, Sergey; Kuzmík, Ján; Pogany, Dionýz; Gornik, Erich; Denison, Marie; Jensen, Nils; Groos, Gerhard; Stecher, Matthias:
A New Numerical and Experimental Analysis Tool for ESD Devices by Means of the Transient Interferometric Technique
. In: IEEE Electron Device Letters,
26.
2005
, 12
. - p. 916-918

Zeitschriftenartikel / Journal Article

Karnehm, Dominic; Neve, Antja:
A Resource-Constrained Polynomial Regression Approach for Voltage Measurement Compression in Electric Vehicle Battery Packs
. In: Batteries,
10.
2024
, 9
. - p. 305

Zeitschriftenartikel / Journal Article

Sauter, Martin; Bertagnolli, Emmerich; Knapek, E.; Fröschle, B.; Eisele, Ignaz; Klose, H.:
A lateral bipolar transistor on SOI fabricated by sub 100 nm e-beam lithography
, Gif sur Yvette Cedex, France
, Editions Frontières
. In: ESSDERC '95 : proceedings of the 25th European Solid State Device Research Conference,
1995

Konferenzbeitrag / Conference Paper

Pogany, Dionýz; Litzenberger, Martin; Bychikhin, Sergey; Gornik, Erich; Groos, Gerhard; Stecher, Matthias:
A method for extraction of power dissipating sources from interferometric thermal mapping measurements
. In: Proceedings ESSDERC'2002,
2002
. - p. 243-246

Konferenzbeitrag / Conference Paper

Sauter, Martin:
A new method for temperature determination of integrated DMOSFETs
, Piscataway, NJ
, IEEE
. In: 29th European Solid-State Device Research Conference,
1999
. - p. 40-543

Konferenzbeitrag / Conference Paper

Bachhuber, M.; Brenner, P.; Sauter, Martin:
A scalable model for lateral pnp Transistors with multiple emitters
. In: European IC-CAP-User-Group Meeting 1999,
1999

Konferenzbeitrag / Conference Paper

Böttcher, Jörg:
Abstandssensoren für Industrie und Automobil
. In: Elektronik-Praxis,
2019
, September : Sonderheft Messtechnik, Sensorik und Test II
. - p. 26-29

Zeitschriftenartikel / Journal Article

Ammer, Michael; Esmark, Kai; Rupp, Andreas; zur Nieden, Friedrich; Cao, Yiqun; Sauter, Martin; Maurer, Linus:
Advanced Behavior Modeling of ICs for System-ESD Simulation with Destruction Limits in SPICE
2017

Konferenzbeitrag / Conference Paper

Morgenstern, Haiko; Groos, Gerhard; Köhne, Heiko; Stecher, Matthias; John, Werner; Reichl, Herbert:
Algorithm for the automatic verification of complex mixed-signal ICs regarding ESD-stress
. In: 2005 PhD Research in Microelectronics and Electronics,
2005
. - p. 213-216

Konferenzbeitrag / Conference Paper

Morgenstern, Haiko; Groos, Gerhard; Schmidt, M.; Köhne, Heiko; John, Werner; Stecher, Matthias; Reichl, Herbert:
Algorithmus zur automatischen Verifikation komplexer Mixed-Signal ICs gegenüber ESD-Belastungen
, Berlin
, VDE-Verlag
. In: Fachbeiträge der 8. GMM / ITG-Diskussionssitzung Analog ’05 ,
2005
. - p. 171-175

Konferenzbeitrag / Conference Paper

Haslbeck, Matthias; Böttcher, Jörg; Braml, Thomas:
An Uncertainty Model for Strain Gages Using Monte Carlo Methodology
. In: Sensors,
23.
2023
, 21
. - p. 8965

Zeitschriftenartikel / Journal Article

Sauter, Martin; Bertagnolli, Emmerich; Knapek, Erwin; Stemmer, Andreas; Fröschle, Barbara; Eisele, Ignaz; Klose, Helmut:
Application of electron beam lithography for downscaling of SOI-Bipolar and BiCMOS
. In: Microeletronic Engineering,
. In: Micro- and Nano-Engineering 95,
30.
1996
, 1-4
. - p. 31-34

Zeitschriftenartikel / Journal Article

Heer, Michael; Dubec, Viktor; Blaho, Matej; Bychikhin, Sergey; Pogany, Dionýz; Gornik, Erich; Denison, Marie; Stecher, Matthias; Groos, Gerhard:
Automated setup for thermal imaging and electrical degradation study of power DMOS devices
. In: European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF),
2005

Konferenzbeitrag / Conference Paper

Heer, Michael; Dubec, Viktor; Blaho, Matej; Bychikhin, Sergey; Pogany, Dionýz; Gornik, Erich; Denison, Marie; Stecher, Matthias; Groos, Gerhard:
Automated setup for thermal imaging and electrical degradation study of power DMOS devices
. In: Microelectronics Reliability,
45.
2005
, 9-11
. - p. 1688-1693

Zeitschriftenartikel / Journal Article

Böttcher, Jörg:
Automatische Generierung von Maschinensteuerprogrammen aus 3D-Modellen
2025

Technischer Report / Technical Report

Böttcher, Jörg:
Basisentwurf einer Vierquadranten-Infrarot-Anflugnavigation mit Simulation und Erprobung eines Funktionsmusters
2019

Technischer Report / Technical Report

Böttcher, Jörg:
Basiskonzeption, Simulation und Laborerprobung eines sicheren automatischen Drohnenanflugs
2020

Technischer Report / Technical Report

Böttcher, Jörg:
Bewegungsstudien und prototypische Entwicklung einer Regelalgorithmik zu einem dynamischen Assistenzsystem für Handwerkzeuge
2022

Technischer Report / Technical Report

Böttcher, Jörg:
Bildbasierte Sensoren
, Norderstedt
, Books on Demand
2019

Monografie / Monograph

Groos, Gerhard:
Blitzableiter für ICs – Schutz vor Elektrostatischen Entladungen
2004
. Presentation at eingeladener Vortrag, Workshop “IC-basierte EMV von Mikrosystemen” des Fraunhofer IZM, Paderborn, 17.6.2004

Vortrag / Presentation